Chip Sorter Series


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KS-900F半自動晶粒挑選機
晶粒 MAPPING DATA 分類檢取
Wafer to JEDEC Tray or Chip Tray
高效能MAPPING 軟體系統,可任意設定取晶範圍
高功能視覺檢測系統,可確實分出不良品
LCD中英文操作畫面操控,維修方便
超高檢取正確率
視覺教導容易

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KS-3410 全自動晶粒挑選機
高產能高精度取放
2、3、4吋Tray盤切換簡易、快速,不需使用工具
高效能MAPPING軟體系統,可任意設定取晶範圍
穩定且保護周密的Tray盤傳送系統,確保產品安全性
 雷射置晶,溢晶檢知功能,確保品質
 

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KS-812 12吋晶粒挑檢機
 具有同時分Bin功能(標準為3 Bin,最多可分6 Bin)
 可滿Tray出料
 Tray 盤尺寸更換簡易,小於 5 分鐘
 High Throughput (UPH: 5.5K)
 高精度、高可靠性線性運動取放頭

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KR-360W 捲帶式晶粒挑選機
 用途: 將晶粒自Wafer挑揀放入捲帶
 封合前置晶結果視覺檢查,大幅降低
 Tape Reel封合後的Rework需求
 高產能高精度取放 (UPH含翻轉 6K,不翻轉 8K)
 封合後結果視覺檢查,確保出貨品質
 具晶片背面視覺檢查功能 (晶片不翻轉時仍適用)
 可選擇是否啟用 Flip 翻轉功能
 檢晶力量VCM控制,可處理表面脆弱的裸晶挑撿
 

 

 

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