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Features
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Available for 15” to 65” panel
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Easy operation interface, CIM interface available
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使用Line scan camera，檢查速度快。
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檢測解析度20μ，並可依使用者需求設定檢測缺陷大小。
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可依不同缺陷進行分類(如 Chipping、 Bali、Broken等)。
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查詢系統可圖示缺陷位置，可快速查詢缺陷位置及大小。
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查詢系統可做缺陷Type分類及良率統計。
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人性化人機界面，便於操作使用。
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適用各種尺寸之Cell產品。
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換線作業簡單快速 。
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穩定性佳，精度高。
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全自動化作業，降低成本。
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