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::GPM 產品介紹::
自動光學檢測

自動光學檢測設備

以非接觸式機器視覺的檢測方法,運用光學感測元件擷取物體影像後,透過特殊的演算技術進行產品缺陷檢查或尺寸精度量測,並可依所得數據作為產品品質控管或製程改善的參考依據。
自動光學檢測
AOI
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切割裂片後檢查機
  • Burr Checker
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隱形眼鏡檢查機
  • Contact Lens AOI
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薄化後檢查機
  • After Slimming Surface AOI
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高精度顯微鏡
  • Hyper Microscope
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晶片入料檢測設備
  • Wafer Incoming Inspection